Projet
présenté en Mars 2004
Visualisez
la caractéristique I = f (U)
d'un dipôle quelconque (résistance, condensateur,
diode, etc...) sur l'écran
de votre oscilloscope en mode X-Y.
Les
avantages d'un tel dispositif sont doubles
: d'une part vous pouvez
trier les composants
en vue de trouver la meilleure caractéristique
I = f (U) et d'autre part vous pouvez
vérifier l'intégrité
d'un composant présumé
défectueux.
Cette réalisation n'emploie aucun microcontrôleur !
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